单项选择题‎某N沟道MOSFET的阈值电压为1V,当其栅源电压短接且栅极电压为3V时,漏极电流ID为4A。该器件的增益因子β为()。

A.2A/V2
B.3A/V2
C.4A/V2
D.1A/V2


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2.单项选择题‏以下哪些因素对MOSFET的阈值电压无影响?()

A.栅氧化层厚度
B.衬底掺杂浓度
C.沟道长度
D.氧化层固定电荷

4.单项选择题CTE对高频小信号注入效率的影响的物理意义是,CTE的存在意味着ie必须先付出对势垒区充放电的多子电流iect后,才能建立起一定的ipe。这一过程需要的时间是()。

A.发射结扩散电容充放电时间常数
B.集电结耗尽区延迟时间
C.集电结势垒电容经集电区充放电的时间常数
D.发射结势垒电容充放电时间常数

5.单项选择题‍()的集电结反向电压VCB称为共基极集电结雪崩击穿电压,记为BVCBO

A.发射极开路时,使I’CEO→∞
B.集电极极开路时,使I’CEO→∞
C.发射极开路时,使I’CBO→∞
D.基极开路时,使I’CBO→∞

6.单项选择题‎在异质结双极型晶体管中,通常用()。

A.窄禁带材料制作发射区,用宽禁带材料制作基区
B.宽禁带材料制作基区区,用窄禁带材料制作集电区
C.窄禁带材料制作基区,用宽禁带材料制作集电区
D.宽禁带材料制作发射区,用窄禁带材料制作基区

8.单项选择题​对PN+结,扩散电容上的电荷主要是储存在()的非平衡载流子电荷。‌

A.N型中性区
B.P型势垒区
C.N型势垒区
D.P型中性区

9.单项选择题理想PN结的电流是()。

A.多子漂移电流
B.少子扩散电流
C.多子扩散电流
D.复合-产生电流

10.单项选择题‏反向偏置的PN结,靠近耗尽层边界的中性区内会发生()过程。

A.产生和漂移
B.漂移和扩散
C.扩散和复合
D.产生和扩散