A.只有埋藏缺陷
B.只有表面开口缺陷
C.各种缺陷,几乎与指向性无关
D.只有面积性缺陷
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A.可行性更高
B.定量精度更高
C.检测效率更高
D.缺陷定性更准确
A.缺陷与标准反射体的形状和表面粗糙度不同
B.工件与标准试块的表面粗糙度不同,操作时对探头的压紧力改变
C.缺陷的倾斜角度
D.以不均不会
A.采用较小的PCS和较窄的波束宽度
B.采用较小的PCS和低的频率
C.采用较大的PCS和较窄的波束宽度
D.采用较大的PCS和较高的频率
A.缺陷的长度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊缝中线的距离
D.缺陷的倾斜角度
A.一次扫查能够实现大范围检测,效率高
B.能同时得到缺陷长度和高度数据
C.焊缝余高不影响扫查,操作方便
D.定位定量准确
A.可增大检测范围
B.可提高缺陷高度测量的精度
C.可消除表面盲区
D.可改进缺陷定位
A.TOFD衍射信号的振幅显著下降,缺陷难以检出
B.TOFD衍射信号的振幅轻微下降,一般不影响检出
C.TOFD衍射信号的振幅显著上升,对检出有利
D.以上都不对
A.120mm
B.138mm
C.148mm
D.156mm
A.15.3μs
B.18.1μs
C.20.9μs
D.24μs
A.92mm
B.109mm
C.125mm
D.144mm
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