A.随着深度的增加而提高
B.随着探头频率的提高而提高
C.随着超声脉冲宽度的减小而提高
D.以上都对
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A.由于缺陷轮廓与底面不平行,很难得到好的拟合结果
B.由于缺陷末端的信号有时看不到,使拟合难以进行
C.当抛物线指针与缺陷信号不能全部拟合时,应优先与信号顶部拟合
D.当抛物线指针与缺陷信号不能全部拟合时,应优先与缺陷的三分之一信号末端拟合
A.随着缺陷埋藏深度的增加而降低
B.随着探头中心间距增大而降低
C.随着脉冲宽度的增大而降低
D.以上都对
A.随着深度的增加而提高
B.随着探头中心间距减小而提高
C.随着脉冲宽度的减小而提高
D.以上都对
A.为减小测量缺陷信号与测量误差,必须仔细测量出所使用的耦合剂厚度
B.如果测量缺陷信号与直通波到达时间之差,则耦合剂引起的缺陷深度测量误差很小
C.如果测量缺陷信号到达的绝对时间,则耦合剂引起的测量误差很小
D.以上叙述都是错误的
A.用高精度的长度尺反复测量
B.用专用的激光测距仪反复测量
C.测量标准试块上不同深度反射体的信号到达时间
D.测量直通波或者底面波信号尖端信号到达的时间
A.对缺陷深度测量精度影响很大
B.对缺陷高度测量精度影响很大
C.对缺陷长度测量精度影响很大
D.对缺陷偏离轴线位置的测量精度影响很大
A.缺陷深度
B.信号脉冲的长度
C.探头中心间距
D.晶片尺寸
A.严重影响缺陷高度的测量精度
B.严重影响V形坡口根部缺陷的检出
C.只在非平行扫查中存在
D.只在平行扫查中存在
A.随探头折射角减小而减小,随底面焊缝宽度的增大而增大
B.随探头折射角减小而增大,随底面焊缝宽度增大而增大
C.随探头折射角减小而减小,随探头脉冲宽度减小而减小
D.随探头折射角减小而增大,随探头脉冲宽度减小而增大
A.探头脉冲周期减少可以减小直通波盲区
B.如果PCS减小,则直通波盲区减小
C.增加探头频率可以减小直通波盲区
D.减小探头晶片尺寸可以减小直通波盲区
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