填空题()以计产品的件数或点数的方法,适于使用以下控制图进行分析:P chart 不良率控制图、nP chart 不良数控制图、C chart 缺点数控制图、U chart 单位缺点数控制图。
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最新试题
当X-MR图中有连续9个点落在中心线同一侧时,说明过程处于()
题型:填空题
第Ⅰ类错误
题型:名词解释
在绘制控制图时,不管采取何种方法,均应注意控制图应能显示过程受控,否则不能计算过程能力。
题型:判断题
当控制图中有连续6点上升或下降时,说明过程处于()
题型:填空题
当过程能力较高时,为降低成本,采取方法使之降低。
题型:判断题
变差
题型:名词解释
控制限
题型:名词解释
SPC
题型:名词解释
1924年,美国的品管大师休哈特(W.A.Shewhart)博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”(亦称为:Shewhart控制图或3σ控制图。即:一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形)。通过对过程变差进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
题型:判断题
R
题型:名词解释