A.用高精度的长度尺反复测量
B.用专用的激光测距仪反复测量
C.测量标准试块上不同深度反射体的信号到达时间
D.测量直通波或者底面波信号尖端信号到达的时间
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A.对缺陷深度测量精度影响很大
B.对缺陷高度测量精度影响很大
C.对缺陷长度测量精度影响很大
D.对缺陷偏离轴线位置的测量精度影响很大
A.缺陷深度
B.信号脉冲的长度
C.探头中心间距
D.晶片尺寸
A.严重影响缺陷高度的测量精度
B.严重影响V形坡口根部缺陷的检出
C.只在非平行扫查中存在
D.只在平行扫查中存在
A.随探头折射角减小而减小,随底面焊缝宽度的增大而增大
B.随探头折射角减小而增大,随底面焊缝宽度增大而增大
C.随探头折射角减小而减小,随探头脉冲宽度减小而减小
D.随探头折射角减小而增大,随探头脉冲宽度减小而增大
A.探头脉冲周期减少可以减小直通波盲区
B.如果PCS减小,则直通波盲区减小
C.增加探头频率可以减小直通波盲区
D.减小探头晶片尺寸可以减小直通波盲区
A.近表面深度测量,时间上一个很小的误差会给深度带来很大的误差
B.近表面深度测量,深度上一个很小的误差会给时间带来很大的误差
C.减小探头中心间距可以改善近表面区域的分辨力
D.增加探头频率可以改善近表面区域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信号淹没在直通波内导致漏检
C.在进行非平行扫查时底面存在盲区
D.在进行平行扫查是底面存在盲区
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.无法给出数值
A.试块上反射体的尺寸误差对检测结果影响不大
B.平底孔和横孔均可用于TOFD波幅校准
C.校准衍射波幅的窄槽宽度不宜大于波长的四分之一
D.校准衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度为60°
A.回波频率变化是由介质对不同频率超声波衰减不同而引起的
B.对于金属材料介质,衰减的主要原因是散射
C.由于高频部分衰减大,低频部分衰减小,回波信号中心频率下降
D.衰减造成各频率分量声压的下降,但回波信号的中心频率没有改变
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下列对耦合剂应该具有的特点的描述,不正确的一项是()
使用变型波检测的一个优点是()
当射线穿透任何一物体时,部分被物体吸收,部分则穿透该物体,还有一部分则被构成该物的原子内电子向各方面散射,此散射为()
底片清晰度和胶片与被照件贴紧程度的关系是()
以下耦合剂中,可用于粗糙表面检测的是()
影响较大的散射线通常来自()
康普顿效应对射线检测的影响包括()
射线照片上细节影像的可识别性主要决定于()
对于平行于检测面的缺陷,一般采用()检测。
探头的分辨力()