A.过程打点可能出界
B.过程打点不会出界
C.过程打点一定出界
D.以上都有可能
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A.过程一定处于统计受控状态
B.过程一定没有特殊原因
C.过程可能有特殊原因
D.以上都对
A.多个
B.单独
C.成对
A.检验一个样本是否来自正态总体
B.若确定是正态分布,可估计正态均值和正态标准差
C.可用来检验一个样本是否来自对数正态分布
D.用来检验一个样本是否来自二项分布
A.过程平均是变化的,可能仍处于变化之中
B.测量系统是变化的
C.这个过程是不变的
D.测量系统是不变的
E.只有A和B
F.只有C和D
A.正确
B.错误
A.仅仅是普通原因
B.仅仅是特殊原因
C.由于普通原因和特殊原因
D.以上都不是
A.p图
B.u图
C.np图
D.c图
E.以上都不是
A.p图
B.u图
C.np图
D.c图
E.以上都不是
A.p图
B.u图
C.np图
D.c图
E.以上都不是
A.可预见的
B.属于静态的
C.不变的
D.以上都是
E.以上都不是
最新试题
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
当X-MR图中有连续9个点落在中心线同一侧时,说明过程处于()
当控制计划要求对相关工序尺寸进行SPC统计过程控制时,公司相关部门进行图控制并进行过程能力研究。
1924年,美国的品管大师休哈特(W.A.Shewhart)博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”(亦称为:Shewhart控制图或3σ控制图。即:一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形)。通过对过程变差进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
变差
PPM(质量水准,即每百万零件不合格数)
过程(Process)
SPC意思是统计过程控制。
Ppk用于批量生产时对过程能力分析,Cpk用于批产前对过程能力的分析。
在“3σ”原则下,控制点落在µ-3σ到µ+3σ之间的概率是()