A.CPU
B.Cp
C.CR
D.PR
E.只有C和D
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A.Cpk
B.Ppk
C.两者都是
A.探测
B.品质
C.预防
D.以上都不是
A.员工倒班
B.员工换班
C.子组内特殊原因变差增加
D.控制限需要调整
A.可预测
B.稳定
C.不变
D.不稳定
A.产生一个稳定的和可重复的结果
B.产生一个可预测的过程
C.是随机的
D.上述都对
A.预控制图
B.X-MR
C.CONSUM CHART
D.衰减控制图
A.它为被作用的过程提供了分析和减少自由变差
B.对于内部的问题和外部的顾客抱怨,它被用作纠正措施的一部分
C.它为要建立的可测量目标强调了恰当和相关联的水平的机会
D.通过识别特殊特性,它用于识别单个不合格品
A.错误。因为P图才被应用于各种测量
B.错误。因为过程和过程间使用的控制图的适宜性是不同的
C.正确。因为子组平均可以被方便的计算
D.正确。因为XBAR-R被要求用于不同的测量
A.受控的
B.始终作用于过程
C.使过程输出不稳定
D.是可预测的
A.可预测的
B.静态的
C.不变的
D.不稳定的
最新试题
当过程能力不足时,为提高过程能力,应进一步减小普通原因和特殊原因造成的变差。
当X-MR图中有连续9个点落在中心线同一侧时,说明过程处于()
控制计划规定的特殊特性应做统计过程控制—SPC。
特殊特性的选择应由企业按产品/过程中特性的重要程度来制定,并没有绝对的正确与否。
在“3σ”原则下,控制点落在µ-3σ到µ+3σ之间的概率是()
当控制计划要求对相关工序尺寸进行SPC统计过程控制时,公司相关部门进行图控制并进行过程能力研究。
当过程能力较高时,为降低成本,采取方法使之降低。
1924年,美国的品管大师休哈特(W.A.Shewhart)博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”(亦称为:Shewhart控制图或3σ控制图。即:一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形)。通过对过程变差进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
在绘制控制图时,不管采取何种方法,均应注意控制图应能显示过程受控,否则不能计算过程能力。
SPC