A.在测量阶段检讨是否需要进行测量系统分析后,没有必要时不需要进行分析
B.破坏性检验无法进行测量系统分析
C.测量值的‘真值’是无法知道的,我们定义的真值是理论真值
D.线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器准确度
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A.它描述了每个详细流程
B.它确认过程之顾客
C.它确认过程之供方
D.它阐明过程的结果
A.问题对象描述具体
B.有清楚的时间描述
C.结果可测量
D.含有解决方案
A、2
B、3
C、1
D、最好留给团队决定
A.子组数量应该在5个以下
B.组内差异只由普通原因造成
C.组内差应大于组间差
D.不存在组内差异
A.当流程不受特殊因素影响时,流程在统计受控状态下
B.当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时,流程是在统计受控状态下
C.当控制限落在客户规格限内时,流程是在统计受控状态下
D.当流程仅受偶然原因变异的影响时,流程是在统计受控之下
A.A和B的总体均值相同
B.A和B的总体均值不相同
C.A和B的总体均值约有0.0019程度的差异
D.P值太小,无法对A与B的总体均值下任何结论
A、正态性检验
B、方差齐性检验
C、设定显著性水平
D、设定控制水平
A、离散X离散Y
B、离散X、连续Y
C、连续X、离散Y
D、连续X、连续Y
A、离散X离散Y
B、离散X、连续Y
C、连续X、离散Y
D、连续X、连续Y
A、T检验
B、方差检验
C、两个比率检验
D、卡方检验
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