A.对缺陷深度测量精度影响很大
B.对缺陷高度测量精度影响很大
C.对缺陷长度测量精度影响很大
D.对缺陷偏离轴线位置的测量精度影响很大
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A.缺陷深度
B.信号脉冲的长度
C.探头中心间距
D.晶片尺寸
A.严重影响缺陷高度的测量精度
B.严重影响V形坡口根部缺陷的检出
C.只在非平行扫查中存在
D.只在平行扫查中存在
A.随探头折射角减小而减小,随底面焊缝宽度的增大而增大
B.随探头折射角减小而增大,随底面焊缝宽度增大而增大
C.随探头折射角减小而减小,随探头脉冲宽度减小而减小
D.随探头折射角减小而增大,随探头脉冲宽度减小而增大
A.探头脉冲周期减少可以减小直通波盲区
B.如果PCS减小,则直通波盲区减小
C.增加探头频率可以减小直通波盲区
D.减小探头晶片尺寸可以减小直通波盲区
A.近表面深度测量,时间上一个很小的误差会给深度带来很大的误差
B.近表面深度测量,深度上一个很小的误差会给时间带来很大的误差
C.减小探头中心间距可以改善近表面区域的分辨力
D.增加探头频率可以改善近表面区域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信号淹没在直通波内导致漏检
C.在进行非平行扫查时底面存在盲区
D.在进行平行扫查是底面存在盲区
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.无法给出数值
A.试块上反射体的尺寸误差对检测结果影响不大
B.平底孔和横孔均可用于TOFD波幅校准
C.校准衍射波幅的窄槽宽度不宜大于波长的四分之一
D.校准衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度为60°
A.回波频率变化是由介质对不同频率超声波衰减不同而引起的
B.对于金属材料介质,衰减的主要原因是散射
C.由于高频部分衰减大,低频部分衰减小,回波信号中心频率下降
D.衰减造成各频率分量声压的下降,但回波信号的中心频率没有改变
A.宽带探头波束中包含各种不同频率分量
B.高频分量分布在波束中心的附近
C.低频分量分布在波束的边缘
D.用仪器测量周期时间计算得到的直通波频率,实际上是回波频率而不是探头发出的信号频率
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