A、特征X射线
B、示性X射线
C、荧光辐射
D、以上都对
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A、本征X射线
B、示性X射线
C、标识X射线
D、连续X射线
A、本征X射线
B、示性X射线
C、标识X射线
D、以上都是
A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子
A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克
A、像质计
B、胶片
C、评定尺
D、增感屏
A、报警电路
B、接收电路
C、同步电路
D、时基电路
A、锻件
B、棒坯
C、铸锭
D、薄板
A、粗糙表面回波幅度高
B、无影响
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
A、耦合不良
B、存在与声束不垂直的缺陷
C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D、以上都可能
A、采用当量试块比较法测定的结果
B、对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果
C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同
最新试题
缺陷检测即通常所说的涡流探伤主要影响因素包括()、电导率、磁导率、边条效应、提离效应等。
对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动,即可获得缺陷的()所在的位置,从而定出缺陷的平面位置。
用于测量黑光强度的现代黑光辐射照度计,其探头(传感器)的光敏组件的前面有(),只适用于测量黑光。
当缺陷面积大于声束截面时,如果声束轴线移到缺陷边缘,缺陷波高约为声束轴线在缺陷中部时波高的()
直接射向缺陷的波就是()
对于长条形试件,则常沿()作平行纵轴的直线式扫查。
涡流检测线圈的自感式线圈由()构成。
随着涡流检侧仪器制造技术的发展,出现了多种型号的同时具备探伤、电导率测量()测量功能的通用型仪器。
涡流检测线圈是在被检测导电材料或零件表面及近表面激励产生()
根据检测对象和目的的不同,涡流检测仪器一般可分为()、涡流电导仪和涡流测厚仪三种。