直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

单项选择题直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

A、耦合不良
B、存在与声束不垂直的缺陷
C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D、以上都可能

1.单项选择题超声探伤中所谓缺陷的指示长度，指的是（）。

A、采用当量试块比较法测定的结果
B、对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果
C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

2.单项选择题直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。

A、窄脉冲
B、衰减
C、波型转换
D、粗晶

3.单项选择题零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号显示叫做（）。

A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、杂波

4.单项选择题焊缝斜角探伤时，如采用直射法，应该考虑（）等干扰回波的影响。

A、结构反射和变型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部

5.单项选择题在探测工件侧壁附近的缺陷时，由于存在着（），所以探伤灵敏度会明显偏低。

A、侧壁干扰
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都对

6.单项选择题当要求探头有最大灵敏度时（）。

A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、压电元件应在其基频上激发
D、探头的频带应尽可能宽

7.单项选择题试块的最小几何尺寸根据几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到（）。

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不对

8.单项选择题试块的最小几何尺寸根据（）。

A、探头耦合面几何尺寸来决定
B、根据试块材料决定
C、几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D、以上都不对

9.单项选择题采用双晶直探头检验大口径“管座角焊缝”时，调节探伤灵敏度应采用（）。

A、底波计算法
B、试块法
C、通用AVG曲线法
D、以上都可以

10.单项选择题直接接触法探伤可以使用（）。

A、直探头
B、斜探头
C、双晶探头
D、以上都可以