A、窄脉冲
B、衰减
C、波型转换
D、粗晶
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A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、杂波
A、结构反射和变型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、侧壁干扰
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都对
A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、压电元件应在其基频上激发
D、探头的频带应尽可能宽
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不对
A、探头耦合面几何尺寸来决定
B、根据试块材料决定
C、几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D、以上都不对
A、底波计算法
B、试块法
C、通用AVG曲线法
D、以上都可以
A、直探头
B、斜探头
C、双晶探头
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、无背衬石英探头
B、带酚醛树脂背衬的石英探头
C、带酚醛树脂背衬的钛酸钡探头
D、带环氧树脂背衬的硫酸锂探头
最新试题
缺陷检测即通常所说的涡流探伤主要影响因素包括()、电导率、磁导率、边条效应、提离效应等。
涡流检测线圈的互感线圈一般由()构成。
涡流探伤中平底盲孔缺陷对于管壁的()具有较好的代表性,因此在在役管材的涡流检测中较多采用。
直接射向缺陷的波就是()
对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动,即可获得缺陷的()所在的位置,从而定出缺陷的平面位置。
对于圆盘形试件,常沿()在圆面上进行扫查。
在声束垂直试件表面时,所获得的()反射波高可能并不是可获得的最大反射波高。
无损探伤检测采用的黑光灯和滤光片的作用是使其辐射波长范围为()mm,峰值波长为365mm。
特性是指实体所特有的性质,它反映子实体满足需要的()
用于测量黑光强度的现代黑光辐射照度计,其探头(传感器)的光敏组件的前面有(),只适用于测量黑光。