A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、杂波
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A、结构反射和变型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、侧壁干扰
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都对
A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、压电元件应在其基频上激发
D、探头的频带应尽可能宽
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不对
A、探头耦合面几何尺寸来决定
B、根据试块材料决定
C、几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D、以上都不对
A、底波计算法
B、试块法
C、通用AVG曲线法
D、以上都可以
A、直探头
B、斜探头
C、双晶探头
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、无背衬石英探头
B、带酚醛树脂背衬的石英探头
C、带酚醛树脂背衬的钛酸钡探头
D、带环氧树脂背衬的硫酸锂探头
A、频率为2.5MHz
B、圆晶片直径为20㎜
C、晶片材料为钛酸钡陶瓷
D、以上都对
最新试题
特性是指实体所特有的性质,它反映子实体满足需要的()
当波束中心线与缺陷面()且回波最()时,移动探头使波束中心(),回波高度当随之下降。
缺陷愈大,所遮挡的声束也愈多,底波波高也就愈低,这就有可能用缺陷波高与底波波高之比来表示缺陷的()
直接射向缺陷的波就是()
随着涡流检侧仪器制造技术的发展,出现了多种型号的同时具备探伤、电导率测量()测量功能的通用型仪器。
根据检测对象和目的的不同,涡流检测仪器一般可分为()、涡流电导仪和涡流测厚仪三种。
涡流探伤中平底盲孔缺陷对于管壁的()具有较好的代表性,因此在在役管材的涡流检测中较多采用。
波束截面中心声能(),随着与中心的距离的增大,声能()
当缺陷面积大于声束截面时,如果声束轴线移到缺陷边缘,缺陷波高约为声束轴线在缺陷中部时波高的()
涡流检测中的对比试样的()和材质相对被检测产品必须具有代表性。