A、侧壁干扰
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都对
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、压电元件应在其基频上激发
D、探头的频带应尽可能宽
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不对
A、探头耦合面几何尺寸来决定
B、根据试块材料决定
C、几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D、以上都不对
A、底波计算法
B、试块法
C、通用AVG曲线法
D、以上都可以
A、直探头
B、斜探头
C、双晶探头
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、无背衬石英探头
B、带酚醛树脂背衬的石英探头
C、带酚醛树脂背衬的钛酸钡探头
D、带环氧树脂背衬的硫酸锂探头
A、频率为2.5MHz
B、圆晶片直径为20㎜
C、晶片材料为钛酸钡陶瓷
D、以上都对
A、电源电路、同步电路
B、发射电路、时基扫描电路
C、接收电路、显示电路
D、以上都是
A、探测频率
B、缺陷方向
C、缺陷部位
D、钢板的厚度
最新试题
波束截面中心声能(),随着与中心的距离的增大,声能()
对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动,即可获得缺陷的()所在的位置,从而定出缺陷的平面位置。
特性是指实体所特有的性质,它反映子实体满足需要的()
对于圆盘形试件,常沿()在圆面上进行扫查。
各类涡流检测仪器的工作原理和()是相同的。
缺陷检测即通常所说的涡流探伤主要影响因素包括()、电导率、磁导率、边条效应、提离效应等。
在远场区,当缺陷比声束截面小时,缺陷波高与缺陷面积成()
缺陷愈大,所遮挡的声束也愈多,底波波高也就愈低,这就有可能用缺陷波高与底波波高之比来表示缺陷的()
随着涡流检侧仪器制造技术的发展,出现了多种型号的同时具备探伤、电导率测量()测量功能的通用型仪器。
直接射向缺陷的波就是()