A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、压电元件应在其基频上激发
D、探头的频带应尽可能宽
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A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不对
A、探头耦合面几何尺寸来决定
B、根据试块材料决定
C、几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D、以上都不对
A、底波计算法
B、试块法
C、通用AVG曲线法
D、以上都可以
A、直探头
B、斜探头
C、双晶探头
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、无背衬石英探头
B、带酚醛树脂背衬的石英探头
C、带酚醛树脂背衬的钛酸钡探头
D、带环氧树脂背衬的硫酸锂探头
A、频率为2.5MHz
B、圆晶片直径为20㎜
C、晶片材料为钛酸钡陶瓷
D、以上都对
A、电源电路、同步电路
B、发射电路、时基扫描电路
C、接收电路、显示电路
D、以上都是
A、探测频率
B、缺陷方向
C、缺陷部位
D、钢板的厚度
A、机电耦合系数
B、压电应变常数
C、压电电压常数
D、机械品质因子
最新试题
各类涡流检测仪器的工作原理和()是相同的。
扫查方式一般视试件的()而定。
随着涡流检侧仪器制造技术的发展,出现了多种型号的同时具备探伤、电导率测量()测量功能的通用型仪器。
铸件超声检测的特点是常采用低频声被以减轻衰减和散射,相应的可检缺陷尺寸()
缺陷愈大,所遮挡的声束也愈多,底波波高也就愈低,这就有可能用缺陷波高与底波波高之比来表示缺陷的()
涡流检测中的对比试样的()和材质相对被检测产品必须具有代表性。
涡流检测线圈的互感线圈一般由()构成。
直接射向缺陷的波就是()
扫描仪器的扫查的间距通常根据探头的最小声束(),保证两次扫查之间有一定比例的覆盖。
对检测仪的时间基线进行校正后,缺陷的埋藏深度可从荧光屏的()上读出。