A、近场区
B、扩散区
C、非扩散区
D、盲区
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A、表面波
B、板波
C、疏密波
D、剪切波
A、障碍物对超声波的传播几乎没有影响
B、波到达障碍物后形成新的波源向四周发射
C、超声波将发生反射、折射和透射
D、有如射波的反射和透射
A、θ=57λ/D
B、θ=57λ/b
C、θ=57λ/a
D、B和C都对
A、指向性
B、近场区
C、振速
D、入射
A、正压电效应
B、逆压电效应
C、压电常数
D、介电常数
A、1/2波长的整数倍时
B、1/2波长的奇数倍时
C、1/4波长的奇数倍时
D、1/4波长的整数倍时
A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不对
A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波长的整数倍时
B、1/2波长的奇数倍时
C、1/4波长的奇数倍时
D、1/4波长的整数倍时
A、底波被较大的面积性缺陷反射
B、底波被较小的单个球状缺陷反射
C、底波的能量被转换为电能而吸收
D、以上都可能
最新试题
根据检测对象和目的的不同,涡流检测仪器一般可分为()、涡流电导仪和涡流测厚仪三种。
当缺陷面积大于声束截面时,如果声束轴线移到缺陷边缘,缺陷波高约为声束轴线在缺陷中部时波高的()
铸件超声检测的特点是常采用低频声被以减轻衰减和散射,相应的可检缺陷尺寸()
涡流检测辅助装置的试样传动装置用于形状规则产品的()
对检测仪的时间基线进行校正后,缺陷的埋藏深度可从荧光屏的()上读出。
()件对不同类型的检测对象和要求,采用的方式各有不同。
扫描仪器的扫查的间距通常根据探头的最小声束(),保证两次扫查之间有一定比例的覆盖。
涡流检测线圈是在被检测导电材料或零件表面及近表面激励产生()
扫查方式一般视试件的()而定。
对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动,即可获得缺陷的()所在的位置,从而定出缺陷的平面位置。