以下关于耦合剂厚度变化对缺陷深度测量误差影响的叙述，正确的是（）

单项选择题以下关于耦合剂厚度变化对缺陷深度测量误差影响的叙述，正确的是（）

A.为减小测量缺陷信号与测量误差，必须仔细测量出所使用的耦合剂厚度
B.如果测量缺陷信号与直通波到达时间之差，则耦合剂引起的缺陷深度测量误差很小
C.如果测量缺陷信号到达的绝对时间，则耦合剂引起的测量误差很小
D.以上叙述都是错误的

1.单项选择题校准探头间距的有效方法是（）

A.用高精度的长度尺反复测量
B.用专用的激光测距仪反复测量
C.测量标准试块上不同深度反射体的信号到达时间
D.测量直通波或者底面波信号尖端信号到达的时间

2.单项选择题探头中心距的误差（）

A.对缺陷深度测量精度影响很大
B.对缺陷高度测量精度影响很大
C.对缺陷长度测量精度影响很大
D.对缺陷偏离轴线位置的测量精度影响很大

3.单项选择题深度分辨力与以下哪一因素无关（）

A.缺陷深度
B.信号脉冲的长度
C.探头中心间距
D.晶片尺寸

4.单项选择题轴偏移深度测量误差（）

A.严重影响缺陷高度的测量精度
B.严重影响V形坡口根部缺陷的检出
C.只在非平行扫查中存在
D.只在平行扫查中存在

5.单项选择题轴偏离底面盲区（）

A.随探头折射角减小而减小，随底面焊缝宽度的增大而增大
B.随探头折射角减小而增大，随底面焊缝宽度增大而增大
C.随探头折射角减小而减小，随探头脉冲宽度减小而减小
D.随探头折射角减小而增大，随探头脉冲宽度减小而增大

6.单项选择题以下关于直通波的盲区的叙述，错误的是（）

A.探头脉冲周期减少可以减小直通波盲区
B.如果PCS减小，则直通波盲区减小
C.增加探头频率可以减小直通波盲区
D.减小探头晶片尺寸可以减小直通波盲区

7.单项选择题以下关于TOFD技术近表面深度测量误差的叙述，错误的是（）

A.近表面深度测量，时间上一个很小的误差会给深度带来很大的误差
B.近表面深度测量，深度上一个很小的误差会给时间带来很大的误差
C.减小探头中心间距可以改善近表面区域的分辨力
D.增加探头频率可以改善近表面区域的分辨力

8.单项选择题以下关于TOFD技术局限性的叙述，错误的是（）

A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信号淹没在直通波内导致漏检
C.在进行非平行扫查时底面存在盲区
D.在进行平行扫查是底面存在盲区

9.单项选择题TOFD技术尺寸测量准确度误差的平均值大约为（）

A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.无法给出数值

10.单项选择题以下关于TOFD试块的叙述，错误的是（）

A.试块上反射体的尺寸误差对检测结果影响不大
B.平底孔和横孔均可用于TOFD波幅校准
C.校准衍射波幅的窄槽宽度不宜大于波长的四分之一
D.校准衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角，角度为60°