对检测仪的时间基线进行校正后，缺陷的埋藏深度可从荧光屏的（）上读出。

单项选择题对检测仪的时间基线进行校正后，缺陷的埋藏深度可从荧光屏的（）上读出。

A.水平刻度线
B.垂直刻度线
C.刻度线
D.水平线

1.单项选择题对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动，即可获得缺陷的（）所在的位置，从而定出缺陷的平面位置。

A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低

2.单项选择题对于长条形试件，则常沿（）作平行纵轴的直线式扫查。

A.长度方向
B.周长方向
C.圆周方向

3.单项选择题对于圆盘形试件，常沿（）在圆面上进行扫查。

A.周长方向
B.长度方向
C.圆周方向

4.单项选择题扫查方式一般视试件的（）而定。

A.形状
B.形状及入射方向
C.入射方向
D.方向

5.单项选择题当波束不再与缺陷相遇，则回波（）

A.理论计算
B.频率单一
C.消失
D.声称

6.单项选择题当波束中心线与缺陷面（）且回波最（）时，移动探头使波束中心（），回波高度当随之下降。

A.正交；高；偏离
B.正交；低；偏离
C.交叉；高；偏离
D.正交；高；脱离

7.单项选择题波束截面中心声能（），随着与中心的距离的增大，声能（）

A.最弱；上升
B.最强；下降
C.试验；下降
D.正交；高

8.单项选择题屏高的意义是指回波呈（）状态时的高度值。

A.饱和
B.一定
C.不饱和
D.良好

9.单项选择题将缺陷波高绝对值与荧光屏垂直满刻度相比，所得百分比即为缺陷波高（）

A.绝对值
B.相对值
C.标量
D.矢量

10.单项选择题直接测量波峰至时间基线的（），此值即为缺陷回波高度的绝对值。

A.宽度
B.长度
C.垂直高度
D.垂直磨耗