A.显极;
B.饱和点;
C.剩磁点;
D.残留点
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A.绝对灵敏度;
B.相对灵敏度;
C.对比灵敏度;
D.以上都是
A.纵向磁化;
B.周向磁化;
C.高充填因数线圈磁化;
D.以上都不是
A.纵向磁化;
B.轴向磁化;
C.向量磁化;
D.平行磁化
A.连续法;
B.剩磁法
A.剩磁法;
B.连续法
A.表面缺陷;
B.内部缺陷;
C.表面和近表面缺陷;
D.以上都可以
A.芯棒法;
B.纵向通电法;
C.磁轭法;
D.触头法;
E.磁通贯通法;
F.A,C和E都是
A.表面缺陷;
B.近表面缺陷;
C.A和B都是;
D.以上都不是
A.周向磁化;
B.纵向磁化;
C.偏振磁化;
D.剩余磁化
A.直流;
B.交流;
C.脉动直流;
D.半波整流
最新试题
磁粉检测,所有的磁痕尺寸、数量和产生部位均应记录并图示。
对于交流线圈,线圈中的工件将影响电流的调整。
采用湿法时,应确认整个检测面被磁悬液湿润后,再施加磁悬液。
在工件内部的剩磁,周向磁化要比纵向磁化大的多。
湿法用磁粉粒度一般比干法小。
材料磁导率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁场换向的次数(退磁频率)应较多,每次下降的磁场值应较小,且每次停留的时间(周期)要略长。
荧光磁粉检测时,磁痕的评定应在暗室或暗处进行,暗室或暗处可见光照度应不小于20Lx。
JB/T4730.4-2005标准规定:大型工件可使用交流电磁轭进行局部退磁或采用缠绕电缆线圈分段退磁。
JB/T4730.4-2005标准规定:剩磁应不大于0.3mT(240A/m)。
JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。