A.物资的极性相似,分子种类不同
B.物资的极性不同,分子种类相同
C.物资结构不同,分子种类相同
D.物资结构相似,分子种类不同
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
A.磁导率降低,磁阻增加
B.磁导率降低,磁阻减少
C.磁导率增加,磁阻增加
D.磁导率增加,磁阻不变
A.MIL-I-25135美国军用工艺标准
B.MIL-I-25135美国军用材料标准
C.MIL-I-25135美国材料及试验协会标准
D.MIL-I-25135美国机械工程师协会标准
A.焊缝拉伸试验
B.焊缝弯曲试验
C.化学成分分析
D.焊接性能试验
A.作用力接近,两者不能相互溶解
B.作用力接近,两者能相互溶解
C.作用力有差异,两者不能相互溶解
D.作用力有差异,两者能相互溶解
A.磁悬液结团
B.亮度明显增高
C.颜色明显降低
D.磁悬液沉淀物之上的载液发荧光
A.焊接件
B.低合金钢铸件
C.奥氏体锻件
D.不规则外形工件
A.小零件批量检验
B.探测细小开口裂纹
C.任何温度下检测
D.确定缺陷的长度
A.形成磁场信号
B.测量磁场信号
C.传播磁电信号
D.分析处理电信号
A.普通手工冲洗显影液
B.自己配制的显影液
C.专用显影液
D.活性低的显影液
A.容器
B.防护屏
C.移动铅房
D.防护门
最新试题
将弯曲液面对液体的压强与平面液面对液体的压强相比,任何液面膜对液体施以附加压强,下面描述正确的是()。
无损检测设备、材料采购验收内容包括()验收。
显影斑纹呈黑色条状或宽带状,在整张底片范围出现,其产生的原因是()。
采用横波斜探头在圆柱曲面外圆进行周向检测时,缺陷定位说法正确的有()。
磁场信号测量中可采用()方法。
冷裂纹常见的有()。
大厚度比试件透照特殊技术中的补偿技术是指利用()填补工件的较薄部分,使透照厚度差减小的方法。
用双晶探头检测时,为增加缺陷显现次数和反射幅度,检测细长缺陷应使探头()。
单晶体金属特点有()。
工艺评定试件焊后应进行()。