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以下哪一种措施不能减小上表面盲区的影响()
对于平行于检测面的缺陷,一般采用()检测。
最容易发生光电效应的射线能量为()
影响较大的散射线通常来自()
通常所谓20KV的X射线是指()
超声波探头上标称的频率是()
底片清晰度与增感屏颗粒度的关系是()
超声波斜探头的K值等于()的正切值。
探头的分辨力()
若评片灯亮度增为原来的两倍,则底片透光度(It/I0)变为原来的()